Browsing by Author "Kalsen, Sonser"

Now showing 1 - 2 of 2

CoFeNi/Cu süperörgülerin özelliklerinin Ni içeriğine bağlı olarak incelenmesi
(Uludağ Üniversitesi, 2010) Kalsen, Sonser; Alper, Mürsel; Uludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Fizik Anabilim Dalı.
Bu çalışmada CoFeNi/Cu süperörgülerin, elektrokimyasal depozisyon tekniği ile kendi iyonlarını içeren çözeltilerden Ti (hekzagonal sıkı paket, hcp) alt tabaka üzerine 3 kalınlığında büyütülmesi ve karakteristik özelliklerinin incelenmesi konu edilmiştir. Bu süperörgülerin özellikleri, Ni konsantrasyonu, Cu (manyetik olmayan) ve CoFeNi (ferromanyetik) tabaka kalınlığına göre incelendi. Metallerin depozisyon potansiyelleri, dönüşümlü voltametri (CV) tekniği ile referans elektroda (doymuş kalomel elektrot SCE) göre, CoFeNi için -1.5 V ve Cu için -0.3 V olarak belirlendi.Numunelerin, yapısal karakterizasyonları X-ışını difraksiyonu (XRD) tekniği ile yapıldı. Üretilen filmlerin XRD spektrumlarında, yüzey merkezli kübik (fcc) yapının (111), (200), (220) ve (311) yansımalarından kaynaklanan pikler açık şekilde gözlendi ve bu nedenle, numunelerin tek fazlı olarak fcc yapıda kristalleştiği sonucuna varıldı. Farklı Ni konsantrasyonlarına sahip çözeltilerden üretilen numunelerin kristal yönelimlerinin, (111) tercihli yönelime sahip olduğu bulundu ve bu da, Ni ve Co tercihli yönelimlerinin (111) olmasından kaynaklanmaktadır. Numunelerin örgü sabitleri hesaplandığında Ni konsantrasyonunun artışının, filmlerin örgü sabitlerinde bir azalışa neden olduğu görüldü, yani külçe (bulk) Ni' in örgü sabiti değerine (0.352 nm) doğru yaklaşmaktadır.Filmlerin manyetik karakterizasyonları için, titreşimli örnek magnetometresi (VSM) kullanıldı. Ölçüm sonuçlarında, Ni konsantrasyonunun 0.0 M'dan 1 M'a kadar arttırılması ile filmlerin koersivite değerlerinin azaldığı görüldü. Bu azalma, film içindeki depozit olan Ni'nin düşük koersivite değerine sahip Co (20 Oe)'nun geri çözünmesine engel olmasından kaynaklanmaktadır.Numunelerin manyetorezitans (MR) ölçümleri van der Pauw tekniği ile yapıldı. CoFe/Cu süperörgüsü, periyodik yapısından dolayı dev manyetorezistans (Giant magnetoresistance-GMR) etki göstermiştir. 0.0 M Ni konsantrasyonuna sahip (yani Ni içermeyen) bir çözeltiden üretilen 375[CoFe(4 nm)/Cu(4 nm)] numunesi %16'luk bir GMR değerine sahip iken 0.5 M Ni içeren çözeltiden üretilen numune için bu değer %22'ye kadar çıkabilmektedir. Ni konsantrasyonu, 0.5 M'dan 1 M'a kadar olan çözeltilerden üretilen filmlerin GMR değerleri azalarak, %9'a kadar düşmektedir. Ayrıca numunelerin manyetorezistans değerleri hem Cu, hem de CoFeNi tabaka kalınlığına bağlı olarak ölçüldü. 0.5 M Ni içeren çözeltiden, CoFeNi tabaka kalınlığı 4 nm'de sabit tutularak, Cu tabakası 0.5 nm'den 4 nm'ye kadar değişen kalınlıklara sahip süperörgüler büyütüldü. En büyük GMR değeri, Cu kalınlığı 4 nm olduğu zaman elde edildi. Diğer taraftan, aynı çözeltiden Cu kalınlığı 4 nm'de sabit tutularak CoFeNi kalınlığı 2-15 nm'ye kadar değiştirildi ve numunelerin sahip olduğu en büyük GMR değeri, CoFeNi kalınlığı 4 nm olduğunda gözlendi.
Properties of electrodeposited CoFeNi/Cu superlattices: The effect of CoFeNi and Cu layers thicknesses
(Springer, 2013-04) Koçkar, Hakan; Karaağaç, Öznur; Kuru, Hilal; Kalsen, Sonser; Alper, Mürsel; Hacıismailoğlu, ‪Mürşide; Uludağ Üniversitesi/Fen-Edebiyat Fakültesi/Fizik Bölümü.; 0000-0001-5648-3230; AAH-9719-2021; AAG-8795-2021; 55537933800; 7005719283; 36482867500
CoFeNi/Cu superlattices were grown on Ti substrate by electrodeposition as a function of the ferromagnetic and non-magnetic layer thicknesses. In order to examine the effect of the Cu layer thickness on the film properties, the Cu layer thickness was changed from 0.5 to 6 nm, while the CoFeNi layer thickness was kept constant at 4 nm. Also, for the CoFeNi layer effect, the CoFeNi layer thickness was changed from 2 to 15 nm, while the Cu layer thickness was fixed at 4 nm. The structural analysis studied by X-ray diffraction indicated that the superlattices have face-centered-cubic structure. Magnetic characteristics were investigated by vibrating sample magnetometer. From the hysteresis curves, the coercivity and the saturation magnetization were determined. It was found that the easy-axis of the films is parallel to the film plane. Magnetoresistance measurements were made by the Van der Pauw method at the room temperature with magnetic fields up to +/- 12 kOe. All superlattices exhibited giant magnetoresistance (GMR). As the ferromagnetic layer thickness increased up to 4 nm, the GMR value increases up to 22 % and then decreases. The superlattices saturated at the lower magnetic layers with increasing ferromagnetic layer thickness. The maximum GMR value was obtained to be 22 % for a superlattice with 375[CoFeNi(4 nm)/Cu(4 nm)].