Eğri uydurma tekniğine dayalı yeni bir yöntemle fotovoltaik panellerin sıcaklık katsayılarının elde edilmesi

Abstract

Bu çalışmada, fotovoltaik panellerin performans parametrelerine (kısa-devre akımı, açık-devre gerilimi ve maksimum çıkış gücü) ait sıcaklık katsayılarını elde etmek için yeni bir yöntem ortaya konmuştur. Eğri uydurma tekniğine dayanan bu yeni yöntem, ölçülen ve hesaplanan performans parametreleri arasındaki en küçük hata değerlerini sağlayan sıcaklık katsayılarını elde etmektedir. Yeni yöntem silikon tabanlı bir fotovoltaik panel için test edilmiştir. Bu panelin; yeni yöntemden elde edilen sıcaklık katsayıları ve kataloğunda sunulan sıcaklık katsayıları dış ölçülen performans parametreleri kullanılarak ortalama karekök hata yaklaşımı ile karşılaştırılmıştır. Sonuç olarak, yeni yöntemden elde edilen sıcaklık katsayılarının, katalog sıcaklık katsayılarından daha iyi bir doğrulukla performans parametrelerinin sıcaklık bağımlılığını ifade ettiği ortaya konmuştur. Mevcut yöntemlerden farklı olarak, yeni yöntem sıcaklık katsayılarını elde etmek için sabit parametrelere, belirli kısıtlamalara veya ilave bir deneysel düzeneğe ihtiyaç duymamaktadır.In this study, a new method is introduced to obtain the temperature coefficients of performance parameters (short-circuit current, open-circuit voltage and the output peak power) of photovoltaic modules. This new method based on the curve fitting technique obtains the temperature coefficients that guaranty the smallest error values between measured and calculated performance parameters. The new method has been tested for a silicon-based photovoltaic module. The temperature coefficients obtained from the new method and the datasheet-supplied temperature coefficients of this module are compared with each other by using performance parameters measured in the field through root mean square error tool. As a result, it has been concluded that temperature coefficients obtained from the proposed new method express the temperature dependency of the performance parameters more accurately than the data-sheet supplied temperature coefficients. Unlike existing methods, the new method does not require fixed parameters, specific constraints, or an additional experimental setup to obtain temperature coefficients.